




用于测定材料本身厚度或材料表面覆盖层厚度的仪器。有些构件在制造和检修时必须测量其厚度,以便了解材料的厚薄规格,各点均匀度和材料腐蚀、磨损程度;有时则要测定材料表面的覆盖层厚度,以-产品和生产安全。根据测定原理的不同,常用测厚仪有超声、磁性、涡流、同位素等四种。超声波测厚仪超声波在各种介质中的声速是不同的,但在同一介质中声速是一常数。
声波在介质中传播遇到第二种介质时会被反射,测量超声波脉冲从发射至接收的间隔时间,即可将这间隔时间换算成厚度。在电力工业中应用的就是这类测厚仪。常用于测定锅炉锅筒、受热面管子、管道等的厚度,也用于校核工件结构尺寸等。这类测厚仪多是携带式的,体积与小型半导体收音机相近,厚度值的显示多是数字式的。对于钢材,测定厚度达2000 mm左右,精度在±0.01~±0.1 mm之间。

膜厚仪edx-8000b型xrf镀层测厚仪
simply the best
>;微光斑x 射线-光学器件
通过将高亮度一次 x 射线照射到0.02mm的区域,实现-测量。
>;硅漂移探测器 (sdd) 作为检测系统
高计数率硅漂移检测器可实现-测量。
>;高分辨率样品观测系统
的点位测量功能有助于提高测量精度。
英飞思开发的edx8000b镀层测厚仪是专门针对于镀层材料成分分析和镀层厚度测定。其主要优点是准确,快速,无损,操作简单,测量速度快。可同时分析多达五层材料厚度,并能对镀层的材料成分进行快速鉴定。
xrf镀层测厚仪工作原理
镀层测厚仪edx8000b是将x射线照射在样品上,通过从样品上反射出来的第二次x射线的强度来测量镀层等金属薄膜的厚度,因为没有接触到样品且照射在样品上的x射线能量很低,所以不会对样品造成损坏。同时,测量的也可以在10秒-30秒内完成。
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