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苏州英飞思科学仪器有限公司
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主营:
地址:苏州工业园区唯新路69号一能科技园2号楼407室
膜厚仪edx-8000b型xrf镀层测厚仪
simply the best
>;微光斑x 射线-光学器件
通过将高亮度一次 x 射线照射到0.02mm的区域,实现-测量。
>;硅漂移探测器 (sdd) 作为检测系统
高计数率硅漂移检测器可实现-测量。
>;高分辨率样品观测系统
的点位测量功能有助于提高测量精度。
膜厚仪edx8000b可分析的常见镀层材料
可测试重复镀层、非金属、轻金属、多层多元素以及有机物层的厚度及成分含量。
单涂镀层应用:如cr/fe, ni/fe, ag/cu,zn/fe等
多涂镀层应用:如au/ni/cu, ag/pb/zn, ni/cu/fe等
合金镀层应用:如znni/fe, znal/ni/cu等
合金成分应用:如nip/fe, 同时分析镍磷含量和镀层厚度