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材质必须均匀。你的待测元素不均匀的话，多的地方和少的地方差别会较大。因为xrf光谱仪入射光线一般较窄，直径1-5微米，也就是说照射到样品的区域会很小，所以不均匀样品检测会不准确，当然主要也是看不均匀程度。
你的交错规律排列指的什么？如果是一层高分子，一层无机物，在一层高分子一层无机物，并且每层的厚度一定比如层高分子都是10微米厚。这样的可以在一定程度上看成是均匀的，但是用x荧光光谱仪测量还是有问题，因为x荧光透过不同物质有厚某元素的x荧光透射不出来的厚度，原因是自吸收的问题。
电子电气产品中---检测rohs2.0样品拆分通用要求
general disassembly requirements for testing hazardous substances in electrical&electronic products
在电子电气产品---的检测中 ，样品拆分过程对于检测结果具有直接的影响。本标准参考欧盟关于均质材料的定义对样品进行拆分，将样品拆分成终提交检测的单元，然后再进行检测。对于用机械手段难以拆分的非均质材料，按照一定的条件，如、体积等符合本标准规定的，可以直接提交检测，不需进一步拆分。本标准用举例和图示的方法对拆分的原则进行说明
5 当拆分对象难以进一步拆分且重量≤10mg 时，不必拆分，作为非均质检测单元，直接提交检测。
6 当拆分对象难以进一步拆分且体积≤1.2mm3时，不必拆分，可以整体制样如：0805类贴片类元件 2.0×1.2×0.5mm 的元件不必拆分作为非均质检测单元，cs995型红外碳硫分析仪，直接提交检测。
7 表面处理层应尽量与本体分离如涂层；对于确实无法分离的如镀层，可对表面处理层进行初筛(如使用 x 射线荧光光谱仪xrf等手段)，筛选合格则不拆分；筛选不合格，可使用非机械方法分离(如使用能溶解表面处理层而不能溶解本体材料的化溶液
学溶解提取)。
8 在满足检测结果有效性的前提下，对于经拆分后样品无法满足检测需求量时，可采取
适类，一同制样，直接提交检测
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